Tester przyrządów półprzewodnikowych Keithley

Pomiar charakterystyk dynamicznych elementów półprzewodnikowych i zależności C(U)

Wydział:

Wydział Elektryczny

charakterystyki dynamiczne, charakterystyki pojemnościowe, pólprzewodniki

dr inż. Damian Bisewski,
e-mail: d.bisewskiwe.am.gdynia.pl,
tel. 58 5586 417